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超音波探傷検査 Sat C Sam 解析 故障 良品 観察 分析解析 Okiエンジニアリング
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故障解析の非破壊検査は故障原因究明に向け、外観検査、電気的特性検査、x線の検査、超音波探査(sat)など最適な解析を実施します。 破断面、変色、 イオンマイグレーション には 走査型電子顕微鏡(SEM) を、剥離、クラックには 超音波探査(SAT) を用います。.

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